HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
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詳細(xì)摘要： GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進(jìn)行超快鍍層分析的理想工具，非常適合于導(dǎo)體（和/或）非導(dǎo)體復(fù)合鍍層的分析?？煞治?0多種元素，其中包括C、H...
產(chǎn)品型號：Profiler 2所在地：國外更新時(shí)間：2024-03-13 在線留言
詳細(xì)摘要： GD-Profiler HR射頻輝光放電光譜儀擁有*的超高光譜分辨率，為解決復(fù)雜基體中的疑難問題提供了適宜、便利的方法。
產(chǎn)品型號：Profiler HR所在地：國外更新時(shí)間：2024-03-11 在線留言
詳細(xì)摘要： MicOS顯微光譜測量系統(tǒng)詳細(xì)信息：HORIBA Scientific研發(fā)的MicOS顯微光譜系統(tǒng)，可提供完整的顯微光譜測量解決方案，它主要包括一個(gè)直接與光譜儀...
產(chǎn)品型號：MicOS所在地：國外更新時(shí)間：2024-01-15 在線留言
詳細(xì)摘要： HORIBA等離子體分析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀原理：等離子體分析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電等離子體的濺射速度和時(shí)間飛行質(zhì)譜的快速以及高靈敏度，實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高靈敏度...
產(chǎn)品型號：PP-TOFMS所在地：國外更新時(shí)間：2023-11-09 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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